VLF ٹیسٹنگ کا مقصد کیا ہے؟

بہت کم فریکوئنسی (VLF) ٹیسٹنگ ایک فیلڈ-میڈیم- اور ہائی-وولٹیج (MV/HV) پاور کیبل انسولیشن کی سالمیت کا اندازہ لگانے کا طریقہ ہے۔ یہ کم-تعدد AC وولٹیج-عام طور پر 0.1 Hz-کو ایک ڈی-کیبل پر ایک متعین مدت کے لیے لاگو کرتا ہے، پھر یہ جانچتا ہے کہ آیا موصلیت اس دباؤ کو برداشت کرتی ہے یا کنٹرول شدہ حالات میں ناکام ہوجاتی ہے۔

مقصد صرف "ہائی وولٹیج لگانا" نہیں ہے۔ یہ آپریشنل تیاری کی تصدیق کرنا، سروس میں ناکام ہونے سے پہلے شدید پوشیدہ نقائص کو بے نقاب کرنا، اور پورٹیبل آلات کے ساتھ ایسا کرنا ہے جو معیاری 50/60 Hz AC ذرائع عملی طور پر طویل کیبل پر نہیں دے سکتے۔

بنیادی مقصد: کیبل کی موصلیت کی سالمیت کی تصدیق کریں۔

VLF برداشت کرنے والا ٹیسٹ ایک مقررہ وقت کے لیے عام آپریٹنگ وولٹیج سے اوپر کیبل پر زور دیتا ہے

اگر کیبل → آپریٹر کو زیادہ اعتماد حاصل ہو جاتا ہے تو سسٹم کو فوری طور پر سروس میں ناکام نہیں ہونا چاہیے

اگر کوئی شدید نقص موجود ہے → یہ منصوبہ بند بندش کے دوران ٹوٹ جاتا ہے، غیر منصوبہ بند غلطی سے پہلے مرمت یا تبدیلی کی اجازت دیتا ہے

یہ فیکٹری کمیشننگ منطق کا آئینہ دار ہے: انرجیائزیشن سے پہلے خراب اجزاء کا پتہ لگائیں، گاہک کی بندش کے بعد نہیں۔

VLF کیوں موجود ہے: پرانے طریقوں کے ساتھ تین مسائل

مسئلہ 1: 50/60 ہرٹز AC کا مقابلہ کرنا فیلڈ میں ناقابل عمل ہے۔

پاور کیبلز انتہائی قابلیت ہیں۔ ایک لمبی MV کیبل کو لائن فریکوئنسی پر چارج کرنے کے لیے بہت زیادہ رد عمل کی طاقت کی ضرورت ہوتی ہے-ٹیسٹ سیٹ بڑے، بھاری اور مہنگے ہو جاتے ہیں۔ 0.01–0.1 ہرٹز پر VLF بجلی کی طلب کو ڈرامائی طور پر کم کرتا ہے، جس سے فیلڈ ٹیسٹنگ کو پورٹیبل اور AC تناؤ کی خصوصیات کو قربان کیے بغیر عملی بنایا جاتا ہے۔

مسئلہ 2: DC hipot جدید پولیمر کیبلز کے لیے غیر موزوں ہے۔

تاریخی طور پر، فیلڈ میں DC ہائی-ممکنہ (ہائپوٹ) ٹیسٹنگ عام تھی۔ تحقیق اور فیلڈ کا تجربہ XLPE، EPR، اور دیگر پولیمر موصلیت کے لیے حدود ظاہر کرتا ہے:

DC AC آپریشن سے مختلف الیکٹرک فیلڈ ڈسٹری بیوشن بناتا ہے۔

جدید کیبلز میں خرابی کی مخصوص اقسام کا پتہ لگانے کے لیے DC ٹیسٹنگ غیر موثر ہو سکتی ہے۔

عمر رسیدہ پولیمر موصلیت پر DC تناؤ بقیہ سروس لائف میں کمی کو تیز کر سکتا ہے۔

VLF AC وولٹیج کیریکٹر کو برقرار رکھتا ہے، عام کیبل آپریشن کے قریب فیلڈ ڈسٹری بیوشن تیار کرتا ہے{0}}کیوں IEEE اور یوٹیلیٹی پریکٹس XLPE/EPR سسٹمز کے لیے DC پر VLF کی حمایت کرتے ہیں۔

مسئلہ 3: چھپے ہوئے نقائص آپ کے شیڈول میں ناکام ہونے چاہئیں، گرڈ کے نہیں۔

VLF ٹیسٹنگ کا سب سے قیمتی مقصد سروس کے بجائے جانچ کے دوران خرابی-پر مبنی ناکامی ہے۔ موصلیت کی شدید کمزوریاں-جوڑوں پر تنصیب کی خرابیاں، آلودگی، پانی کے درختوں کی نشوونما، برقی درختوں کو تیار کرنا-بصری معائنہ سے گزر سکتا ہے لیکن بلند AC دباؤ میں ناکام ہو سکتا ہے۔

IEEE 400.2 ٹیسٹ کی سطحوں پر:

ٹیسٹ سے اچھی موصلیت کو نقصان نہیں پہنچا ہے۔

موجودہ شدید نقائص کو ٹیسٹ ونڈو کے اندر جزوی خارج ہونے، درختوں کی نشوونما، اور حتمی طور پر ٹوٹ پھوٹ کا سبب بنتا ہے۔

ٹیسٹنگ کے دوران کم-توانائی کی ناکامی عام طور پر بھری ہوئی نیٹ ورک پر سروس کی خرابی کے مقابلے میں کم کولیٹرل نقصان کا سبب بنتی ہے

یہ فلسفہ 1990 کی دہائی کے اوائل میں نمایاں طور پر ابھرا کیونکہ پانی سے منسلک XLPE کیبل کی خرابیاں-درختوں کے مظاہر میں اضافہ ہوا-اور سائٹ پر حساس تشخیص ابھی تک وسیع پیمانے پر دستیاب نہیں تھے۔

VLF ٹیسٹنگ کس خرابیوں کو نشانہ بناتی ہے؟

VLF برداشت کرنے والی جانچ ہر ابتدائی-عمر رسیدگی کے اشارے-کی پیمائش نہیں کرتی ہے جو کہ ٹین ڈیلٹا اور جزوی خارج ہونے والے مادہ (PD) کی پیمائش جیسے تشخیصی ٹیسٹوں کا کردار ہے، جو اکثر اسی VLF ذریعہ سے انجام دیا جاتا ہے۔

عام ایپلی کیشنز

VLF ٹیسٹ کیسے کیا جاتا ہے (جائزہ)

جانچ کے تحت کیبل سیکشن کو-تحت بنائیں اور الگ کریں۔

منقطع کریں اور ملحقہ سامان کو محفوظ طریقے سے گراؤنڈ کریں۔

VLF ٹیسٹ سیٹ کو کیبل کنڈکٹر اور میان/زمین سے جوڑیں۔

VLF AC وولٹیج کو قابل اطلاق معیار کے ذریعہ متعین سطح پر لاگو کریں۔

مطلوبہ مدت کے لیے وولٹیج کو ہولڈ کریں (مثلاً 30 یا 60 منٹ)

خرابی، غیر معمولی کرنٹ، یا تشخیصی سگنلز کی نگرانی کریں (اگر PD/tan ڈیلٹا فعال ہو)

تعمیل اور اثاثہ کے ریکارڈ کے لیے دستاویز کے نتائج

کلیدی معیارات

عام پیرامیٹرز (وولٹیج کلاس کے لحاظ سے مختلف ہوتے ہیں):

تعدد: 0.1 ہرٹج (سب سے عام)

ٹیسٹ وولٹیج: اکثر ~2–3 × U₀ (مثال کے طور پر، U₀=8.7 kV کے ساتھ 15 kV کلاس کیبل پر 22 kV VLF)

دورانیہ: 30 منٹ یا 60 منٹ فی IEEE 400.2

مخصوص کیبل کلاس کے لیے ہمیشہ معیاری اور مینوفیکچرر ڈیٹا شیٹ کی پیروی کریں-ٹیسٹ لیول اور وقت وولٹیج کی درجہ بندیوں میں قابل تبادلہ نہیں ہوتے ہیں۔